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夏比投影儀XT50
夏比投影儀XT50

產(chǎn)品型號: XT-50

所屬分類:激光測距儀

產(chǎn)品時間:2016-09-23

簡要描述:隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展,越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗方法》該標(biāo)準(zhǔn)對試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格,所以在整個試驗過程中,試樣的加工是否合格會直接影響Z終的試驗結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格,那么其試驗結(jié)果是不可信的,特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結(jié)果的巨大陡跳

詳情介紹

夏比投影儀
 

一、概述

隨著國內(nèi)工業(yè)技術(shù)的發(fā)展,越來越多的行業(yè)已經(jīng)開始執(zhí)行《金屬夏比沖擊試驗方法》該標(biāo)準(zhǔn)對試樣要求相當(dāng)嚴(yán)格,所以在整個試驗過程中,試樣的加工是否合格會直接影響zui終的試驗結(jié)果。如果試樣加工質(zhì)量不合格,那么其試驗結(jié)果是不可信的,特別是試樣缺口的微小變化可能會引起試驗結(jié)果的巨大陡跳,尤其是在試驗的臨界值時,會引起產(chǎn)品的合格或報廢兩種截然相反的不同結(jié)局。為保證試樣缺口的合格,其質(zhì)量檢驗是一個重要的控制手段,目前,用光學(xué)投影放大檢驗是*切實可行的方法。

XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和GB/T299-1994《金屬夏比沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口的要求而開發(fā)的一種于檢驗夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器,該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上,與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對比,以確定被檢測的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點是操作簡便,對比直觀。

二、工作原理:
根據(jù)需要,本儀器為單一投射照明,光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺上,再通過一系列光學(xué)元件將被測試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的圖形與實際試樣放置的方位*。

本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測物體,再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。

 

三、主要參數(shù):

 

投影屏直徑:

180mm

工作臺尺寸:

方工作臺尺寸:

110×125mm

圓工作臺直徑:

90mm

工作臺玻璃直徑:

70mm

工作臺行程:

縱向:

±10mm

橫向:

±10mm

升降:

±12mm(無刻度)

工作臺轉(zhuǎn)動范圍:

0-360°(無刻度)

放大倍數(shù):

儀器放大倍率:

50X

物鏡放大倍率:

2.5X

投影物鏡放大倍率:

20X

光源(鹵鎢燈):

12V    100W

外形尺寸:

515×224×603mm(長×寬×高)

重量:

約18Kg



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